艾体威尔申请提高非接触读卡性能的调试方法专利，降低误读和漏读的概率

<p>金融界2024年12月18日消息，国家知识产权局信息显示，艾体威尔电子技术（北京）有限公司申请一项名为“一种提高非接触读卡性能的调试方法”的专利，公开号 CN 119129616 A，申请日期为2024年9月。</p><p>专利摘要显示，本发明属于非接触读卡性能技术领域，且公开了一种提高非接触读卡性能的调试方法，具体步骤如下：天线的设计，根据天线形状的设计，天线的参数与线圈大小、匝数、线圈宽度、线圈之间间距以及PCB厚度相关，输入天线的尺寸、调整线圈匝数N获得感值；通过优化天线设计和元器件参数选取和匹配电路设计，提升了系统的使用范围和读卡信号的稳定性和准确性，降低了误读和漏读的概率；通过调整外部阻抗、EMC滤波电路等方式，实现了对读卡场强的精确控制，提高了读卡的一致性和可靠性；通过调整接收器增益、开启AGC和Squelch功能等噪声抑制措施，有效降低了系统噪声水平，进一步提升了读卡性能；针对金属环境对天线性能的影响，提出了导磁防护措施。</p>