上海申茂申请一种漆包扁线膜厚测量系统专利，能够精确获取扁线表面的几何特征，减少测量偏差

<p>金融界2024年11月27日消息，国家知识产权局信息显示，上海申茂电磁线有限公司申请一项名为“一种漆包扁线膜厚测量系统”的专利，公开号CN 119022811 A，申请日期为2024年10月。</p><p>专利摘要显示，本发明涉及漆包扁线膜厚测量技术领域，尤指一种漆包扁线膜厚测量系统，通过在漆包扁线两侧设置激光测距装置，能够精确获取扁线表面的几何特征，减少因表面凹陷或凸起引起的测量偏差。同时，处理距离矩阵数据时，采用滤波和边界检测算法优化，确保数据平滑并显著提高了膜厚度的测量精度。此外，电流电压检测模块通过分析电阻与膜厚度之间的关系，实时监测电学特性，尤其在漆包膜内部出现空缺时及时反映出异常，补足传统方法对内部缺陷的检测不足。视觉监测模块结合深度残差网络，能实时监测扁线表面弯曲和缺陷，自动生成测试指令，避免无效测量，实现智能化检测。</p>