Q8344A是一款高性能光学光谱分析仪,具备1.5秒/扫描的高速相干测量能力,波长范围0.35至1.75微米,精度达±0.1纳米。内置He-Ne激光器确保长期稳定测量,适用于激光二极管、LED、光纤及滤波器等多种光学元件的特性测试。